27 апреля 2016

SPEA на выставке Semicon China

Участие компании SPEA на прошедшей выставке Semicon China в Шанхае ознаменовалось полным успехом. Представленная линейка оборудования для тестирования МЭМС компонентов, устройств со смешанными сигналами, зондовых плат и плат нагрузок вызвала огромный интерес — в дни выставки стенд Spea посетили сотни гостей.

DOT400: революция в тестировании полупроводниковых компонентов с сигналами смешанного типа

На стенде компании посетителям была продемонстрирована новейшая тестовая платформа DOT400 для тестирования сигналов смешанного типа. Новая платформа от компании SPEA отвечает потребностям низкобюджетных, компактных, легко конфигурируемых тестовых систем, обладающих высокой точностью измерений и широкими функциональными возможностями, что является необходимым в современных условиях для тестирования сигналов смешанного типа. Тестер очень компактный, состоит всего из 3 основных типов инструмента, представляя собой идеальное тестирующее решение для производств полупроводниковых компонентов и их контроля для различных областей промышленности: от автомобильной до аэрокосмической, включая работу с МЭМС.

Высокая плотность инструментария и оптимизированная конструкция позволили вместить мощный тестовый комплекс в очень компактную систему (50×50×60 см), которая может быть как непосредственно состыкована с зондовой установкой для контроля полупроводниковых пластин, так и использоваться в качестве настольной системы. Новое поколение контрольно-измерительных приборов предлагает возможности параллельного тестирования с обеспечением высокой целостности сигналов.

Конструкция системы обеспечивает возможность простого и быстрого изменения конфигурации при необходимости изменения потребности производства. Прежде всего, 3 типа мощных инструментальных средств имеют все необходимое, чтобы полностью удовлетворить потребности тестирования большинства устройств со смешанными сигналами. На основе этих основных инструментов конфигурация системы может быть адаптирована под определенный продукт, позволяя избежать бесполезной и дорогостоящей функциональной перегруженности системы. Изменение конфигурации выполняется предельно просто, при этом мобильность системы сохраняется благодаря компактным размерам и механизму стыковки, не требующему манипулятора.

Тестовый технологический комплекс для МЭМС: новый шаг вперед

Линейка оборудования для тестирования МЭМС компонентов стала центром непрерывного развития.

Модульная архитектура оборудования, сочетающая в себе функции захвата и подачи компонента для испытаний, позволяющая проводить функциональное тестирование или калибровку при физическом воздействии на компонент (температура, давление), сегодня расширена дополнительными стимулирующими модулями, что повышает возможности оборудования, способствуя увеличению производительности и точности.

Диапазон тестируемых устройств в настоящее время включает акселерометры, датчики давления, магнитные МЭМС и МЭМС с 9-ю степенями свободы, датчики приближения, датчики влажности, МЭМС-микрофоны, УФ-датчики с возможностью изменения конфигурации оборудования и применением различных модулей воздействия.

Система манипулирования позволяет производить захват и подачу компонентов размером от 1×1 мм.

SPEA4060: установка электрического контроля с «летающими» пробниками для тестирования зондовых/загрузочных плат и плат нагрузок

Установка SPEA4060 позволяет контролировать качество не только собранных печатных узлов, но и качество разнообразной технологической оснастки и в виде зондовых/загрузочных плат и плат нагрузок, как на предприятиях полупроводниковой продукции, так и на производствах, где необходим углубленный входной контроль применяемой элементной базы с использованием тестеров компонентов и систем электротермотренировки. Установку SPEA 4060 можно с выгодой применять для тестирования зондовых/загрузочных плат и плат нагрузок как перед запуском их в серийное производство, так и для локализации неисправностей при текущей работе с оснасткой, определении оставшегося срока службы компонентов для исключения простоев в процессе производства из-за сбоев плат нагрузок.

SPEA 4060 с высокой точностью способна обнаруживать ненадежные компоненты, например, реле экономически эффективным способом. Профилактические испытания компонентов с четко определенным сроком эксплуатации позволяют выявлять на раннем этапе те компоненты, которые необходимо заменить, чтобы исключить выход их из строя уже в процессе производства.

Цель профилактических испытаний, которые проводятся на производственных платах нагрузок через определенные промежутки времени — значительно уменьшить количество отказов плат нагрузок во время серийных испытаний, и, соответственно, снизить возникающие расходы.