20 октября в рамках деловой программы выставки Радэл 2016 ООО «Остек-Электро» проведет специализированные семинары.
Семинары будут проходить с 10 до 14 часов в зале № 3.
№ |
Название семинара |
Описание |
Докладчик |
1 |
Способы организации и технологии электрического тестирования в современном процессе производства РЭА |
Будут подробно рассмотрены вопросы технологий электрического контроля качества печатных узлов; возможности современных автоматизированных тестовых систем. Доклад затронет технологии электрического тестирования в зависимости от типа производства, позволяющие быстро обнаруживать и эффективно локализовывать технологические дефекты и дефекты компонентов |
Клюквин Николай |
2 |
Принципы организации электрического теста жгутов и кабелей с использованием универсальных коммутирующих устройств |
Будет подробно рассмотрен процесс проверки качества кабелей и жгутов, способы автоматизации проверки жгутов, показаны возможные типы оснасток, значительно упрощающие процесс тестирования |
Юдин Алексей |
3 |
Тестирование моточных изделий и электрических машин |
Будет подробно рассмотрен процесс проверки качества моточных изделий: катушек, трансформаторов, электрических машин. Показаны возможности современных тестеров, используемых для проверки. Доклад затронет способы тестирования, позволяющие обнаружить возможные дефекты в электродвигателях при производстве |
Юдин Алексей |
4 |
Технология JTAG как основное средство для тестирования сложных цифровых изделий |
Технология периферийного сканирования по стандарту IEEE 1149.1 позволяет автоматически создавать тестовые программы для плат, содержащих процессоры, ПЛИС, микроконтроллеры, интерфейсные микросхемы. Диагностируемые дефекты: КЗ, обрывы линий (даже если они находятся под BGA), перекрутки, отсутствия и КЗ разварки кристаллов ИМС и пр. Большинство современных цифровых микросхем, таких как Intel, Texas Instruments, Xilinx, Altera и многих других производителей (включая отечественных) поддерживают данный стандарт. |
Иванов Алексей |
5 |
Современные измерительные приборы и их применение в процессе производства изделий электронной техники |
Будет представлен обзор оборудования AnaPico, рассмотрен принципиально новый подход к измерению фазовых шумов в импульсном режиме, показаны способы тестирования кварцевых генераторов с чувствительностью до −185 дБн/Гц. Принципиально новым решением станет генератор сигналов с 8 изолированными каналами и диапазоном частот до 12 ГГц. Будут продемонстрированы генераторы сигналов AnaPico c ультранизким уровнем фазовых шумов −141 дБн/Гц (частота несущей 1 ГГц отстройка 100 кГц) |
Подолько Арсений |