27 октября 2015 г. Группа компаний Остек приглашает принять участие в семинаре «Контроль качества изготовления радиоэлектронной продукции по электрическим параметрам. Примеры и методики раннего выявления контрафакта и предупреждения дефектов», который пройдет в конференц-зале Остек, г. Москва.
На семинаре будут подробно рассмотрены вопросы организации электрического контроля радиоэлектронных узлов и сборок в современных условиях с учетом увеличивающегося наплыва контрафактной элементной базы. Мы коснемся вопросов автоматизированного тестирования цифровых и цифро-аналоговых модулей, жгутов и кабелей, компонентов электродвигателей и электрических машин в сборе, трансформаторов, изделий, обладающих магнитными свойствами. Особое внимание будет уделено подходам и примерам выявления несоответствия продукции.
Участие в семинаре бесплатное!
Вы можете зарегистрироваться на участие в семинаре любым из предлагаемых способов:
Время проведения: с 8:30 до 17:00. Начало регистрации: 8:30.
Место проведения: Москва, ул. Молдавская 5 строение 2
Заявки на участие принимаются до 23 октября 2015 г.
Программа семинара
Время |
Мин. |
Наименование доклада |
Докладчики |
08:30 — 09:00 |
30 |
Регистрация участников |
|
09:00 — 09:30 |
30 |
Способы организации и технологии контроля по электрическим параметрам в современном процессе производства РЭА |
Насонов А. Ю. |
09:30 — 10:00 |
30 |
Подходы к электрическому тестированию. Что тестировать до монтажа, что после |
Насонов А. Ю. |
10:00 — 10:30 |
30 |
Стратегия электрического контроля, роль внутрисхемного контроля в повышении качества и снижении издержек производства |
Клюквин Н. А. |
10:30 — 10:45 |
15 |
Кофе-брейк |
|
10:45 — 11:15 |
30 |
Применение технологии внутрисхемного тестирования для классификации партии радиоэлектронных компонентов |
Клюквин Н. А. |
11:15 — 12:00 |
45 |
Входной контроль, сертификация и отбраковка ЭКБ современными средствами тестирования |
Насонов А. Ю. |
12:00 — 13:00 |
60 |
Обед |
|
13:00 — 13:45 |
45 |
Принципы организации электрического теста жгутов и кабелей с использованием универсальных коммутирующих устройств |
Насонов А. Ю. |
13:45 — 14:15 |
30 |
Электрический контроль моточных изделий и электродвигателей (трансформаторы, статоры, роторы, сердечники) |
Юдин А. А. |
14:15 — 15:00 |
45 |
Технологии JTAG-тестирования: принципы и реализация |
Иванов А. В. |
15:00 — 15:15 |
15 |
Кофе-брейк |
|
15:15 — 16:00 |
45 |
Характерные проблемы, с которыми сталкиваются производители цифровой электроники при тестировании |
Иванов А. В. |
16:00 — 16:45 |
45 |
Автоматизированные измерительные стенды на базе модульных приборов |
Смирнов А. А. |
16:45 — 17:00 |
15 |
Подведение итогов и ответы на вопросы |