4 февраля 2016

Приглашаем принять участие в научно-практическом семинаре «Передовые методы исследования материалов для инновационных разработок»

1 марта 2016 года ООО «Остек-АртТул» приглашает принять участие в научно-практическом семинаре «Передовые методы исследования материалов для инновационных разработок», который пройдёт в конференц-зале Группы компаний Остек, Москва.

На семинаре будут подробно рассмотрены современные научные аналитические решения для исследования материалов, применяемых, в том числе, в авиационно-космической, оборонной и атомной отраслях. Основное внимание будет сосредоточено на аналитических методах, позволяющих совершать инновационные разработки в области материаловедения. Подробно будут рассмотрены электронно-лучевые методы исследования поверхности, рентгеноспектральный и рентгеноструктурный анализ, трёхмерные реконструкции микрорельефа в точных координатах.

В рамках мероприятия будет демонстрироваться следующее оборудование:

  • видеомикроскоп высокого разрешения Hirox KH-8700;
  • настольный растровый электронный микроскоп JEOL JCM-6000Plus;
  • рентгеновский дифрактометр Bruker D2 PHASER.

Участие в семинаре бесплатное!

На семинар можно зарегистрироваться любым из представленных ниже способов:

  • по электронной почте: info@ostec-group.ru*;
  • по телефону: 8 (495) 788-44-44;
  • заполнив форму заявки внизу страницы.

* Указать: наименование мероприятия, дату проведения мероприятия, город, Ф.И.О., должность, название предприятия и контактный телефон.

Место проведения: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.

Время проведения: с 9:00 до 17:30.

Начало регистрации: 9:00.

Заявку на участие необходимо прислать до 26 февраля 2016 г.

Программа семинара

1 марта 2016 г.

9:00 — 9:30. Регистрация участников, завтрак.

9:30. Приветственное слово. Продолжительность 10 мин.

9:40. Методы неразрушающего контроля и возможности растровой электронной микроскопии.

Докладчик: Урубков Илья Владимирович, к.ф.-м.н. Продолжительность 45 мин.

  1. Метод растровой электронной микроскопии, выбор РЭМ, «бюджетные» системы, РЭМ высокого разрешения и методики работы со «сложными» образцами.
  2. Оже-микрозонд — уникальный инструмент для анализа тонких приповерхностных слоев с высокой локальностью.
  3. Методы пробоподготовки для растровой электронной микроскопии.

10:25. Современные методы световой микроскопии в материаловедении

Докладчик: Новикова Ольга Олеговна. Продолжительность 45 мин.

  1. Методы исследования в световой микроскопии, обработка и анализ изображений.
  2. Оптические микроскопы для инспекции полупроводников и металлов.
  3. Специальные приставки для оптических микроскопов.

11:10. Кофе-брейк

11:30. Реконструкция и анализ микрорельефа современными средствами визуализации

Докладчик: Ляпин Андрей Борисович, к.г.-м.н. Продолжительность 45 мин.

12:15 — 13:00. Обед

13:00. Специальные методы изучения образцов микроэлектроники

Докладчик: Урубков Илья Владимирович, к.ф.-м.н. Продолжительность 45 мин.

  1. Метод фотоэлектронной спектроскопии.
  2. Эффект Керра и его применение в исследованиях свойств магнитных материалов.
  3. Декапсуляция микросхем и решение задач обратного инжиниринга.

14:15. Современное рентгеноспектральное оборудование компании Bruker AXS.

Докладчик: Прибора Василий Николаевич, к.ф.-м.н. Продолжительность 40 мин.

14:55 — 15:10. Перерыв

15:10. Современное рентгенодифракционное оборудование Bruker AXS

Докладчик: Голованов Денис Геннадиевич, к.х.м. Продолжительность 40 мин.

15:50. Современное рентгеновское оборудования для решения прецизионных задач материаловедения компании Bruker AXS

Докладчик: Прибора Василий Николаевич, к.ф.-м.н. Продолжительность 40 мин.

16:30 — 17:30 Фуршет

Демонстрация настольного растрового электронного микроскопа. Садыков Б. Р. (Карпов М. И.).

Демонстрация видеомикроскопа Hirox KH-8700. Карпов М. И.

Демонстрация рентгеновского дифрактометра D2 PHASER. Путилин С. Н., к.х.н.