2 ноября 2016

JTAG Technologies автоматизирует создание тестов памяти с использованием ядер процессоров

JTAG Technologies анонсирует новый программный инструмент CTPG, использование которого увеличит тестовое покрытие и скорость тестирования плат, проверяемых с помощью периферийного сканирования. В то время как классическая технология периферийного сканирования использует для тестирования цифровых узлов стандартные регистры IEEE 1149.1, новая методика использует доступ через JTAG-интерфейс к ядрам микроконтроллеров, процессоров и FPGA. Но самая главная особенность программы CTPG – это возможность автоматически генерировать тестовые векторы для проверки микросхем памяти, подключенных к соответствующему микроконтроллеру.

Тестирование микросхем ОЗУ с помощью регистров периферийного сканирования процессоров или ПЛИС, к которым подключена память, уже давно автоматизировано: создание тестов занимает считанные секунды. Однако периферийное сканирование предоставляет довольно медленный тест, при котором могут быть упущены те дефекты на линиях ОЗУ, которые проявляются на рабочих частотах. Кроме того, тест может быть вообще не осуществим, если контроллер или процессор не поддерживает стандарт периферийного сканирования, а JTAG-интерфейс предоставляет доступ только к ядру. Создание же тестов памяти с использованием ядра вручную – довольно трудоёмкое занятие. Поэтому в компании JTAG Technologies был создан программный инструмент автоматической генерации таких тестов.

Программа CTPG работает со всеми тестерами JTAG Technologies и средой разработки тестов JTAG ProVision. Также как и автоматически созданные приложения, использующие периферийное сканирование, тесты CTPG в результате их выполнения предоставляют пользователю диагностические сообщения о наличии и местоположении найденных дефектов в текстовом виде. Найденные неисправные цепи и выводы компонентов могут быть отображены на рисунке печатной платы и схеме изделия с помощью программы JTAG Visualizer.

www.jtagtechnologies.ru