Семинары ООО «Остек-Электро» на выставке Радэл 2016

Дата проведения

20 октября 2016 года

Место проведения

Санкт-Петербург, Петербургский СКК, пр. Ю.Гагарина, 8, ст. метро «Парк Победы»

20 октября в рамках деловой программы выставки Радэл 2016 ООО «Остек-Электро» проведет специализированные семинары.

Семинары будут проходить с 10 до 14 часов в зале № 3.

Название семинара

Описание

Докладчик

1

Способы организации и технологии электрического тестирования в современном процессе производства РЭА

Будут подробно рассмотрены вопросы технологий электрического контроля качества печатных узлов; возможности современных автоматизированных тестовых систем. Доклад затронет технологии электрического тестирования в зависимости от типа производства, позволяющие быстро обнаруживать и эффективно локализовывать технологические дефекты и дефекты компонентов

Клюквин Николай

2

Принципы организации электрического теста жгутов и кабелей с использованием универсальных коммутирующих устройств

Будет подробно рассмотрен процесс проверки качества кабелей и жгутов, способы автоматизации проверки жгутов, показаны возможные типы оснасток, значительно упрощающие процесс тестирования

Юдин Алексей

3

Тестирование моточных изделий и электрических машин

Будет подробно рассмотрен процесс проверки качества моточных изделий: катушек, трансформаторов, электрических машин. Показаны возможности современных тестеров, используемых для проверки. Доклад затронет способы тестирования, позволяющие обнаружить возможные дефекты в электродвигателях при производстве

Юдин Алексей

4

Технология JTAG как основное средство для тестирования сложных цифровых изделий

Технология периферийного сканирования по стандарту IEEE 1149.1 позволяет автоматически создавать тестовые программы для плат, содержащих процессоры, ПЛИС, микроконтроллеры, интерфейсные микросхемы. Диагностируемые дефекты: КЗ, обрывы линий (даже если они находятся под BGA), перекрутки, отсутствия и КЗ разварки кристаллов ИМС и пр. Большинство современных цифровых микросхем, таких как Intel, Texas Instruments, Xilinx, Altera и многих других производителей (включая отечественных) поддерживают данный стандарт.
Знания, полученные на семинаре, позволят применить технологию, которая уже встроена в используемые микросхемы, для быстрой диагностики дефектов с точностью до вывода компонентов невзирая на сложность выпускаемых изделий

Иванов Алексей

5

Современные измерительные приборы и их применение в процессе производства изделий электронной техники

Будет представлен обзор оборудования AnaPico, рассмотрен принципиально новый подход к измерению фазовых шумов в импульсном режиме, показаны способы тестирования кварцевых генераторов с чувствительностью до −185 дБн/Гц. Принципиально новым решением станет генератор сигналов с 8 изолированными каналами и диапазоном частот до 12 ГГц. Будут продемонстрированы генераторы сигналов AnaPico c ультранизким уровнем фазовых шумов −141 дБн/Гц (частота несущей 1 ГГц отстройка 100 кГц)

Подолько Арсений


Схема проезда

Санкт-Петербург, Петербургский СКК, пр. Ю.Гагарина, 8, ст. метро «Парк Победы»