Пресс-центр

1 марта 2016 года ООО «Остек-АртТул» приглашает принять участие в научно-практическом семинаре «Передовые методы исследования материалов для инновационных разработок», который пройдёт в конференц-зале Группы компаний Остек, Москва.

На семинаре будут подробно рассмотрены современные научные аналитические решения для исследования материалов, применяемых, в том числе, в авиационно-космической, оборонной и атомной отраслях. Основное внимание будет сосредоточено на аналитических методах, позволяющих совершать инновационные разработки в области материаловедения. Подробно будут рассмотрены электронно-лучевые методы исследования поверхности, рентгеноспектральный и рентгеноструктурный анализ, трёхмерные реконструкции микрорельефа в точных координатах.

В рамках мероприятия будет демонстрироваться следующее оборудование:

• видеомикроскоп высокого разрешения Hirox KH-8700;
• настольный растровый электронный микроскоп JEOL JCM-6000Plus;
• рентгеновский дифрактометр Bruker D2 PHASER.

Участие в семинаре бесплатное!

На семинар можно зарегистрироваться любым из представленных ниже способов:

• по электронной почте: info@ostec-group.ru*;
• по телефону: 8 (495) 788-44-44;
• заполнив форму заявки внизу страницы.

* Указать: наименование мероприятия, дату проведения мероприятия, город, Ф.И.О., должность, название предприятия и контактный телефон.

Место проведения: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.

Время проведения: с 9:00 до 17:30.

Начало регистрации: 9:00.

Заявку на участие необходимо прислать до 26 февраля 2016 г.

Программа семинара

9:00-9:30. Регистрация участников, завтрак.

9:30 Приветственное слово участникам семинара. 10 мин.

9:40 Методы неразрушающего контроля и возможности растровой электронной микроскопии. Докладчик: Урубков Илья Владимирович, к.ф.-м.н. 45 мин.

1. Метод растровой электронной микроскопии, выбор РЭМ, «бюджетные» системы, РЭМ высокого разрешения и методики работы со «сложными» образцами
   
2. Оже-микрозонд — уникальный инструмент для анализа тонких приповерхностных слоев с высокой локальностью
   
3. Методы пробоподготовки для растровой электронной микроскопии
   

10:25 Акустическая микроскопия — неразрушающий контроль материалов и изделий микроэлектроники. Докладчик: Борисов Евгений Александрович, 30 мин.

10:55 Кофе брейк

11:15 Современные методы световой микроскопии в материаловедении

Докладчик: Новикова Ольга Олеговна. 30 мин.

1. Методы исследования в световой микроскопии, обработка и анализ изображений
   
2. Оптические микроскопы для инспекции полупроводников и металлов
   
3. Специальные приставки для оптических микроскопов
   

11:45 Реконструкция и анализ микрорельефа современными средствами визуализации

Докладчик: Ляпин Андрей Борисович, к.г.-м.н. 30 мин.

12:15 — 13:00 Обед

13:00 Специальные методы изучения образцов микроэлектроники

Докладчик: Урубков Илья Владимирович, к.ф.-м.н. 45 мин.

1. Метод фотоэлектронной спектроскопии
   
2. Эффект Керра и его применение в исследованиях свойств магнитных материалов
   
3. Декапсуляция микросхем и решение задач обратного инжиниринга
   

14:15 Современное рентгеноспектральное оборудование компании Bruker AXS.

Докладчик Прибора Василий Николаевич, к.ф.-м.н. Время 30 мин.

14:45 — 15:00 Перерыв

15:00 Современное рентгенодифракционное оборудование Bruker AXS

Докладчик Голованов Денис Геннадиевич, к.х.н. 30 мин.

15:30 Современное рентгеновское оборудование для решения прецизионных задач материаловедения компании Bruker AXS

Докладчик Прибора Василий Николаевич, к.ф.-м.н. Время 30 мин

16:00 Оборудование для рентгеновского малоуглового рассеяния Bruker AXS Докладчик Голованов Денис Геннадиевич, к.х.н. 30 мин

16:30 — 17:30 Фуршет